يمكن ضبط عتبة اختبار العداد من خلال برنامج الإدارة
إيقاف التشغيل التلقائي (يمكن إلغاؤه)
يمكن للمستخدمين اختبار 1490 في شبكة PON في نفس الوقت نانومتر، 1550 نانومتر، 1310 نانومتر ثلاثة أطوال موجية
قياس وعرض مختلف بنيات PON وإشارات البيانات والفيديو في نفس الوقت
توفر الأداة خمس مجموعات من العتبات للاختيار من بينها، مع أوضاع النجاح والتحذير والفشل
معايرة يدوية
| الموديل | PON | ||
| قياس الطول الموجي | 1310 نانومتر | 1490 نانومتر | 1550 نانومتر |
| نوع المستشعر | InGaAS | ||
| الخطية | ± 0.2 ديسيبل في 1550 نانومتر> 40 ديسيبل ميلي واط | ||
| العزل مع وظيفة الترشيح |
الطول الموجي 1490 نانومتر >40 ديسيبل الطول الموجي 1550 نانومتر > 40 ديسيبل |
الطول الموجي 1310 نانومتر > 40 ديسيبل الطول الموجي 1550 نانومتر > 30 ديسيبل |
الطول الموجي 1310 نانومتر > 40 ديسيبل الطول الموجي 1490 نانومتر > 30 ديسيبل |
| نطاق الاختبار | >30 ديسيبل ， <10 ديسيبل ميلي أمبير | ||
| فقدان الإدراج في وضع الاختراق (ديسيبل) | <1.5 ديسيبل | ||
| تردد بصري قابل للقياس عريض النطاق | 1260~1360 | 1480~1500 | 1539~1565 |
| عدم اليقين المتأصل | 0.5 ديسيبل ± 1 نانوواط @ 1550 نانومتر | ||
| دقة العرض | 0.01 ديسيبل | ||
| إعداد العتبة | يتم تعيين 5 مجموعات بواسطة الكمبيوتر المضيف | ||
| الطول الموجي للمعايرة | 1310 نانومتر/1490 نانومتر/1550 نانومتر | ||
| تخزين البيانات | 900 مجموعة | ||
| درجة حرارة التشغيل | -10℃~+50℃ | ||
| الرطوبة النسبية | 0٪ ~ 95٪ رطوبة نسبية | ||
| نوع الواجهة | SC/UPC (يمكن تخصيص أنواع أخرى) | ||
| مصدر الطاقة | 3 بطاريات AA | ||
| عبوة قياسية | الوصف | ||
| KPN-35 | الجهاز الرئيسي KPN-35، خط USB، بطاقة الضمان، دليل المستخدم، العبوة | ||
لغة 
هاتف: 
